BPatG 154 6.70 BUNDESPATENTGERICHT 17 W (pat) 311/03 _______________ (Aktenzeichen) Verkündet am 22. April 2004 … B E S C H L U S S In der Einspruchssache betreffend das Patent 199 30 532 … - 2 - … hat der 17. Senat (Technischer Beschwerdesenat) des Bundespatentgerichts auf die mündliche Verhandlung vom 22. April 2004 unter Mitwirkung des Vorsitzenden Richters Dipl.-Phys. Dr.rer.nat. Fritsch sowie des Richters Dipl.-Phys. Dr. Kraus, der Richterin Eder und des Richters Dipl.-Ing. Schuster beschlossen: Das deutsche Patent 199 30 532 wird widerrufen. G r ü n d e I. Auf die am 30. Juni 1999 beim Deutschen Patent- und Markenamt eingegangene Patentanmeldung 199 30 532.3 wurde das Patent mit der Bezeichnung "Anord-nung zur Optimierung der Pulsform in einem Laser-Scanning-Mikroskop" erteilt. Der Patentanspruch 1 in der erteilten Fassung lautet: 1. Anordnung zur Einstellung der Pulsform eines Kurzpulslasers am Ort der Probenwechselwirkung in einem Laserscanmikroskop, mit einer den Laserpuls des Kurzpulslasers in seine spektralen Bestandteile dispersiv aufspaltenden und diese Bestandteile wie-der zusammenführenden, dispersiven Einheit, dadurch gekenn-zeichnet, daß die dispersive Einheit eine Abbildungsoptik aufweist, welche die spektralen Bestandteile des Kurzpulslasers in eine Brennebene innerhalb der dispersiven Einheit abbildet und hier - 3 - räumlich voneinander trennt und in der Brennebene ein die von-einander getrennten spektralen Bestandteile des Kurzpulslasers separat beeinflussender Lichtmanipulator angeordnet ist, der die-se in ihrer Phase oder Amplitude ändert und hierdurch die Einstel-lung der Pulsform gewährleistet. Wegen der Unteransprüche 2 bis 6 wird auf die Patentschrift verwiesen. Gegen das Patent ist Einspruch erhoben und geltend gemacht worden, daß der Patentgegenstand nicht neu sei und nicht auf erfinderischer Tätigkeit beruhe. Der Einspruch stützt sich auf folgende Druckschriften: 1) Journal Am.Chem.Soc. 1998, 120, S 13023-13027, Christo-pher J. Bardeen et al. "Quantum Control of Population Trans-fer in Green Fluorescent Protein by Using Chirped Femtose-cond Pulses" 2) Optics Letters, Vol. 24, No 4, Feb. 15, 1999, Buist et al. "Pro-bing microscopic chemical environments with high-intensity chirped pulses" 3) Chemical Physics Letters 280 (1997), S 151-158, Bardeen et al. "Feedback quantum Control of molecular electronic popula-tion transfer" 4) Appl. Phys. B 65, 779-782 (1997), Baumert et al. "Femtose-cond pulse shaping by an evolutionary algorithm with feed-back" 5) Optics Letters, Vol 18, No 23, Dec 1, 1993, Wefers et al: "Pro-grammable phase and amplitude femtosecond pulse shaping" 6) Abstract for Femtochemistry III, Lund Sweden, Aug 1997, Christopher Bardeen et al., "Efficient Quantum Control of Po-pulation Transfer in Liquid Solution Using Feedback" - 4 - 7) Dissertation von Volker Seyfried, vorgelegt an der Universität Würzburg, 1998, "Beobachtung und Kontrolle molekularer Dy-namik durch Femtosekundenlaserpulse" 8) Schreiben von Herrn Seyfried vom 06.12.1997 an die Leica Lasertechnik GmbH 9) Deutsche Offenlegungsschrift DE 196 22 359 A1 Im Erteilungsverfahren sind neben der Druckschrift 9) noch folgende Druckschrif-ten in Betracht gezogen worden: 10) EP 0 916 981 A1 11) DE 42 21 063 C2 Die Einsprechende beantragt, das Patent zu widerrufen. Die Patentinhaberin beantragt, das Patent mit folgenden Unterlagen aufrechtzuerhalten: Patentansprüche 1 bis 15 sowie 4 Blatt Beschreibung, überreicht in der mündlichen Verhandlung, Zeichnungen, Figuren 1 bis 3, wie Patentschrift; hilfsweise mit den Patentansprüchen 1 bis 15 mit 4 Blatt Beschrei-bung (Hilfsantrag 1), überreicht in der mündlichen Verhandlung, hilfsweise mit den Patentansprüchen 1 bis 12 (Hilfsantrag 2), hilfsweise mit den Patentansprüchen 1 bis 12 (Hilfsantrag 3), hilfsweise mit den Patentansprüchen 1 bis 11 (Hilfsantrag 4), hilfsweise mit den Patentansprüchen 1 bis 11 (Hilfsantrag 5), hilfsweise mit den Patentansprüchen 1 bis 9 (Hilfsantrag 6), - 5 - hilfsweise mit den Patentansprüchen 1 bis 9 (Hilfsantrag 7), jeweils mit 4 Blatt Beschreibung zu Hilfsantrag 1, überreicht in der mündlichen Verhandlung, und Figuren 1 bis 3 wie Patentschrift. Die Patentinhaberin erklärt die Teilung des Patents. Die Patentansprüche 1 gemäß Hauptantrag und Hilfsanträgen 1 bis 7 haben fol-genden Wortlaut: Hauptantrag: 1. Anordnung zur Einstellung der Pulsform eines Kurzpulslasers am Ort der Probenwechselwirkung mit - einem Kurzpulslaser (KL) zur Bereitstellung kurzer Laserpulse für die Anregung eines nichtlinearen Effekts in einer Probe (P), - mit einem dem Kurzpulslaser (KL) nachgeordneten Pulsfor-mer (PF) zur Manipulation der Form der Laserpulse, die eine dispersive Einheit (1, 3) zum Aufspalten der Laserpulse in ihre spektralen Bestandteile und zum Wiederzusammenführen die-ser Bestandteile aufweist, - mit einem Laser-Scanning-Mikroskop (M, O), in welches die manipulierten Laserpulse einleitbar sind, zum Fokussieren der Laserpulse in der Probe (P), um darin den nichtlinearen Effekt anzuregen, und - mit einem mit dem Mikroskop (M, O) zusammenwirkenden De-tektor (4) zum Nachweis des von den kurzen Laserpulsen am Ort der Probenwechselwirkung angeregten nichtlinearen Ef-fekts, dadurch gekennzeichnet, - dass der Pulsformer (PF) zum separaten Beeinflussen der spektralen Bestandteile des Kurzpulslasers ausgebildet ist, - 6 - - dass die dispersive Einheit (1, 3) eine Abbildungsoptik (L1, L2) aufweist, die die spektralen Bestandteile in eine Brennebene in-nerhalb der dispersiven Einheit (1, 3) abbildet und hier räumlich voneinander trennt, - dass in der Brennebene ein steuerbarer Lichtmanipulator (2) angeordnet ist, mit dem die spektralen Bestandteile zur Manipu-lation der Pulsform separat in ihrer Phase und/oder Amplitude veränderbar sind, - dass die spektralen Bestandteile nach Manipulation durch den Lichtmanipulator (2) von der dispersiven Einheit (1, 3) wieder zusammenführbar sind, - dass eine Regeleinrichtung (R) vorgesehen ist, die mit dem Kurzpulslaser (KL), dem Pulsformer (PF), dem Mikroskop (M, O) und dem Detektor (4) zusammenwirkt, und - dass die Regeleinrichtung (R) in Abhängigkeit zumindest von einem von dem Detektor (4) gemessenen Messsignal den Lichtmanipulator (2) so ansteuert, dass das Messsignal maxi-mal ist. Hilfsantrag 1: 1. Anordnung zur Einstellung der Pulsform eines Kurzpulslasers am Ort der Probenwechselwirkung - mit einem Kurzpulslaser (KL) zur Bereitstellung kurzer Laserpul-se für die Anregung eines nichtlinearen Effekts in einer Pro-be (P), - mit einem dem Kurzpulslaser (KL) nachgeordneten Pulsfor-mer (PF) zur Manipulation der Form der Laserpulse, die eine dispersive Einheit (1, 3) zum Aufspalten der Laserpulse in ihre spektralen Bestandteile und zum Wiederzusammenführen die-ser Bestandteile aufweist, - 7 - - mit einem Laser-Scanning-Mikroskop (M, O), in welches die manipulierten Laserpulse einleitbar sind, zum Fokussieren der Laserpulse in der Probe (P), um darin den nichtlinearen Effekt anzuregen, und - mit einem mit dem Mikroskop (M, O) zusammenwirkenden De-tektor (4) zum Nachweis des von den kurzen Laserpulsen am Ort der Probenwechselwirkung angeregten nichtlinearen Ef-fekts, dadurch gekennzeichnet, - dass der Pulsformer (PF) zum separaten Beeinflussen der spektralen Bestandteile des Kurzpulslasers ausgebildet ist, - dass die dispersive Einheit (1, 3) eine Abbildungsoptik (L1, L2) aufweist, die die spektralen Bestandteile in eine Brennebene in-nerhalb der dispersiven Einheit (1, 3) abbildet und hier räumlich voneinander trennt, - dass in der Brennebene ein steuerbarer Lichtmanipulator (2) angeordnet ist, mit dem die spektralen Bestandteile zur Manipu-lation der Pulsform separat in ihrer Phase und/oder Amplitude veränderbar sind, - dass die spektralen Bestandteile nach Manipulation durch den Lichtmanipulator (2) von der dispersiven Einheit (1, 3) wieder zusammenführbar sind, - dass eine Regeleinrichtung (R) vorgesehen ist, die mit dem Kurzpulslaser (KL), dem Pulsformer (PF), dem Mikroskop (M, O) und dem Detektor (4) zusammenwirkt, und - dass die Regeleinrichtung (R) in Abhängigkeit zumindest von einem von dem Detektor (4) gemessenen Messsignal den Lichtmanipulator (2) so ansteuert, dass das Messsignal opti-miert ist. - 8 - Hilfsantrag 2: 1. Anordnung zur Einstellung der Pulsform eines Kurzpulslasers am Ort der Probenwechselwirkung in einem Laser-Scanning-Mikroskop, mit - einem Kurzpulslaser (KL) zur Bereitstellung kurzer Laserpulse für die Anregung eines nichtlinearen Effekts in einer Probe (P), - mit einem dem Kurzpulslaser (KL) nachgeordneten Pulsfor-mer (PF) zur Manipulation der Form der Laserpulse, die eine dispersive Einheit (1, 3) zum Aufspalten der Laserpulse in ihre spektralen Bestandteile und zum Wiederzusammenführen die-ser Bestandteile aufweist, - mit einem Mikroskop (M, O), in welches die manipulierten La-serpulse einleitbar sind, zum Fokussieren der Laserpulse in der Probe (P), um darin den nichtlinearen Effekt anzuregen, und - mit einem mit dem Mikroskop (M, O) zusammenwirkenden De-tektor (4) zum Nachweis des von den kurzen Laserpulsen am Ort der Probenwechselwirkung angeregten nichtlinearen Ef-fekts, dadurch gekennzeichnet, - dass der Pulsformer (PF) zum separaten Beeinflussen der spektralen Bestandteile des Kurzpulslasers ausgebildet ist, - dass die dispersive Einheit (1, 3) eine Abbildungsoptik (L1, L2) aufweist, die die spektralen Bestandteile in eine Brennebene in-nerhalb der dispersiven Einheit (1, 3) abbildet und hier räumlich voneinander trennt, - dass in der Brennebene ein steuerbarer Lichtmanipulator (2) angeordnet ist, mit dem die spektralen Bestandteile zur Manipu-lation der Pulsform separat in ihrer Phase und/oder Amplitude veränderbar sind, - 9 - - dass die spektralen Bestandteile nach Manipulation durch den Lichtmanipulator (2) von der dispersiven Einheit (1, 3) wieder zusammenführbar sind, - dass eine Regeleinrichtung (R) vorgesehen ist, die mit dem Kurzpulslaser (KL), dem Pulsformer (PF), dem Mikroskop (M, O) und dem Detektor (4) zusammenwirkt, und - dass die Regeleinrichtung (R) in Abhängigkeit zumindest von einem von dem Detektor (4) gemessenen Messsignal vom Ort der Wechselwirkung in der untersuchten Probe den Lichtmani-pulator (2) so ansteuert, dass das Messsignal maximal ist, - wobei in Abhängigkeit von einer Änderung einer Mittenwellen-länge des Kurzpulslasers, der verwendeten mittleren Leistung und/oder der Eindringtiefe in die untersuchte Probe die Phasen- und/oder Amplitudenmodulation des Lichtmanipulators (2) steuerbar ist. Hilfsantrag 3: 1. Anordnung zur Einstellung der Pulsform eines Kurzpulslasers am Ort der Probenwechselwirkung in einem Laser-Scanning-Mikroskop, mit - einem Kurzpulslaser (KL) zur Bereitstellung kurzer Laserpulse für die Anregung eines nichtlinearen Effekts in einer Probe (P), - mit einem dem Kurzpulslaser (KL) nachgeordneten Pulsfor-mer (PF) zur Manipulation der Form der Laserpulse, die eine dispersive Einheit (1, 3) zum Aufspalten der Laserpulse in ihre spektralen Bestandteile und zum Wiederzusammenführen die-ser Bestandteile aufweist, - mit einem Mikroskop (M, O), in welches die manipulierten La-serpulse einleitbar sind, zum Fokussieren der Laserpulse in der Probe (P), um darin den nichtlinearen Effekt anzuregen, und - 10 - - mit einem mit dem Mikroskop (M, O) zusammenwirkenden De-tektor (4) zum Nachweis des von den kurzen Laserpulsen am Ort der Probenwechselwirkung angeregten nichtlinearen Ef-fekts, dadurch gekennzeichnet, - dass der Pulsformer (PF) zum separaten Beeinflussen der spektralen Bestandteile des Kurzpulslasers ausgebildet ist, - dass die dispersive Einheit (1, 3) eine Abbildungsoptik (L1, L2) aufweist, die die spektralen Bestandteile in eine Brennebene in-nerhalb der dispersiven Einheit (1, 3) abbildet und hier räumlich voneinander trennt, - dass in der Brennebene ein steuerbarer Lichtmanipulator (2) angeordnet ist, mit dem die spektralen Bestandteile zur Manipu-lation der Pulsform separat in ihrer Phase und/oder Amplitude veränderbar sind, - dass die spektralen Bestandteile nach Manipulation durch den Lichtmanipulator (2) von der dispersiven Einheit (1, 3) wieder zusammenführbar sind, - dass eine Regeleinrichtung (R) vorgesehen ist, die mit dem Kurzpulslaser (KL), dem Pulsformer (PF), dem Mikroskop (M, O) und dem Detektor (4) zusammenwirkt, und - dass die Regeleinrichtung (R) in Abhängigkeit zumindest von einem von dem Detektor (4) gemessenen Messsignal vom Ort der Wechselwirkung in der untersuchten Probe den Lichtmani-pulator (2) so ansteuert, dass das Messsignal optimiert ist, - wobei in Abhängigkeit von einer Änderung einer Mittenwellen-länge des Kurzpulslasers, der verwendeten mittleren Leistung und/oder der Eindringtiefe in die untersuchte Probe die Phasen- und/oder Amplitudenmodulation des Lichtmanipulators (2) steuerbar ist. - 11 - Hilfsantrag 4: 1. Anordnung zur Einstellung der Pulsform eines Kurzpulslasers am Ort der Probenwechselwirkung in einem Laser-Scanning-Mikroskop, mit - einem Kurzpulslaser (KL) zur Bereitstellung kurzer Laserpulse für die Anregung eines nichtlinearen Effekts in einer Probe (P), - mit einem dem Kurzpulslaser (KL) nachgeordneten Pulsfor-mer (PF) zur Manipulation der Form der Laserpulse, die eine dispersive Einheit (1, 3) zum Aufspalten der Laserpulse in ihre spektralen Bestandteile und zum Wiederzusammenführen die-ser Bestandteile aufweist, - mit einem Mikroskop (M, O), in welches die manipulierten La-serpulse einleitbar sind, zum Fokussieren der Laserpulse in der Probe (P), um darin den nichtlinearen Effekt anzuregen, und - mit einem mit dem Mikroskop (M, O) zusammenwirkenden De-tektor (4) zum Nachweis des von den kurzen Laserpulsen am Ort der Probenwechselwirkung angeregten nichtlinearen Ef-fekts, dadurch gekennzeichnet, - dass der Pulsformer (PF) zum separaten Beeinflussen der spektralen Bestandteile des Kurzpulslasers ausgebildet ist, - dass die dispersive Einheit (1, 3) eine Abbildungsoptik (L1, L2) aufweist, die die spektralen Bestandteile in eine Brennebene in-nerhalb der dispersiven Einheit (1, 3) abbildet und hier räumlich voneinander trennt, - dass in der Brennebene ein steuerbarer Lichtmanipulator (2) angeordnet ist, mit dem die spektralen Bestandteile zur Manipu-lation der Pulsform separat in ihrer Phase und/oder Amplitude veränderbar sind, - 12 - - dass die spektralen Bestandteile nach Manipulation durch den Lichtmanipulator (2) von der dispersiven Einheit (1, 3) wieder zusammenführbar sind, - dass eine Regeleinrichtung (R) vorgesehen ist, die mit dem Kurzpulslaser (KL), dem Pulsformer (PF), dem Mikroskop (M, O) und dem Detektor (4) zusammenwirkt, und - dass die Regeleinrichtung (R) in Abhängigkeit zumindest von einem von dem Detektor (4) gemessenen Messsignal vom Ort der Wechselwirkung in der untersuchten Probe den Lichtmani-pulator (2) so ansteuert, dass das Messsignal maximal ist, - wobei in Abhängigkeit von einer Änderung einer Mittenwellen-länge des Kurzpulslasers, der verwendeten mittleren Leistung und/oder der Eindringtiefe in die untersuchte Probe die Phasen- und/oder Amplitudenmodulation des Lichtmanipulators (2) steuerbar ist und - wobei durch die Phasen und/oder Amplitudenmodulation im Lichtmanipulator (2) Dispersionen höherer Ordnung in den opti-schen Komponenten des Mikroskops (M, O) kompensierbar sind. Hilfsantrag 5: 1. Anordnung zur Einstellung der Pulsform eines Kurzpulslasers am Ort der Probenwechselwirkung in einem Laser-Scanning-Mikroskop, mit - einem Kurzpulslaser (KL) zur Bereitstellung kurzer Laserpulse für die Anregung eines nichtlinearen Effekts in einer Probe (P), - mit einem dem Kurzpulslaser (KL) nachgeordneten Pulsfor-mer (PF) zur Manipulation der Form der Laserpulse, die eine dispersive Einheit (1, 3) zum Aufspalten der Laserpulse in ihre - 13 - spektralen Bestandteile und zum Wiederzusammenführen die-ser Bestandteile aufweist, - mit einem Mikroskop (M, O), in welches die manipulierten La-serpulse einleitbar sind, zum Fokussieren der Laserpulse in der Probe (P), um darin den nichtlinearen Effekt anzuregen, und - mit einem mit dem Mikroskop (M, O) zusammenwirkenden De-tektor (4) zum Nachweis des von den kurzen Laserpulsen am Ort der Probenwechselwirkung angeregten nichtlinearen Ef-fekts, dadurch gekennzeichnet, - dass der Pulsformer (PF) zum separaten Beeinflussen der spektralen Bestandteile des Kurzpulslasers ausgebildet ist, - dass die dispersive Einheit (1, 3) eine Abbildungsoptik (L1, L2) aufweist, die die spektralen Bestandteile in eine Brennebene in-nerhalb der dispersiven Einheit (1, 3) abbildet und hier räumlich voneinander trennt, - dass in der Brennebene ein steuerbarer Lichtmanipulator (2) angeordnet ist, mit dem die spektralen Bestandteile zur Manipu-lation der Pulsform separat in ihrer Phase und/oder Amplitude veränderbar sind, - dass die spektralen Bestandteile nach Manipulation durch den Lichtmanipulator (2) von der dispersiven Einheit (1, 3) wieder zusammenführbar sind, - dass eine Regeleinrichtung (R) vorgesehen ist, die mit dem Kurzpulslaser (KL), dem Pulsformer (PF), dem Mikroskop (M, O) und dem Detektor (4) zusammenwirkt, und - dass die Regeleinrichtung (R) in Abhängigkeit zumindest von einem von dem Detektor (4) gemessenen Messsignal vom Ort der Wechselwirkung in der untersuchten Probe den Lichtmani-pulator (2) so ansteuert, dass das Messsignal optimiert ist, - 14 - - wobei in Abhängigkeit von einer Änderung einer Mittenwellen-länge des Kurzpulslasers, der verwendeten mittleren Leistung und/oder der Eindringtiefe in die untersuchte Probe die Phasen- und/oder Amplitudenmodulation des Lichtmanipulators (2) steuerbar ist und - wobei durch die Phasen und/oder Amplitudenmodulation im Lichtmanipulator (2) Dispersionen höherer Ordnung in den opti-schen Komponenten des Mikroskops (M, O) kompensierbar sind. Hilfsantrag 6: 1. Anordnung zur Einstellung der Pulsform eines Kurzpulslasers am Ort der Probenwechselwirkung in einem Laser-Scanning-Mikroskop, mit - einem Kurzpulslaser (KL) zur Bereitstellung kurzer Laserpulse für die Anregung eines nichtlinearen Effekts in einer Probe (P), - mit einem dem Kurzpulslaser (KL) nachgeordneten Pulsfor-mer (PF) zur Manipulation der Form der Laserpulse, die eine dispersive Einheit (1, 3) zum Aufspalten der Laserpulse in ihre spektralen Bestandteile und zum Wiederzusammenführen die-ser Bestandteile aufweist, - mit einem Mikroskop (M, O), in welches die manipulierten La-serpulse einleitbar sind, zum Fokussieren der Laserpulse in der Probe (P), um darin den nichtlinearen Effekt anzuregen, und - mit einem mit dem Mikroskop (M, O) zusammenwirkenden De-tektor (4) zum Nachweis des von den kurzen Laserpulsen am Ort der Probenwechselwirkung angeregten nichtlinearen Ef-fekts, dadurch gekennzeichnet, - 15 - - dass der Pulsformer (PF) zum separaten Beeinflussen der spektralen Bestandteile des Kurzpulslasers ausgebildet ist, - dass die dispersive Einheit (1, 3) eine Abbildungsoptik (L1, L2) aufweist, die die spektralen Bestandteile in eine Brennebene in-nerhalb der dispersiven Einheit (1, 3) abbildet und hier räumlich voneinander trennt, - dass in der Brennebene ein steuerbarer Lichtmanipulator (2) angeordnet ist, mit dem die spektralen Bestandteile zur Manipu-lation der Pulsform separat in ihrer Phase und/oder Amplitude veränderbar sind, - dass die spektralen Bestandteile nach Manipulation durch den Lichtmanipulator (2) von der dispersiven Einheit (1, 3) wieder zusammenführbar sind, - dass ein Spiegel (S) vorgesehen ist, der mit einem dispersiven Element (1) der dispersiven Einheit zusammenwirkt, wobei das dispersive Element insgesamt zweimal durchlaufen wird, - dass eine Regeleinrichtung (R) vorgesehen ist, die mit dem Kurzpulslaser (KL), dem Pulsformer (PF), dem Mikroskop (M, O) und dem Detektor (4) zusammenwirkt, und - dass die Regeleinrichtung (R) in Abhängigkeit zumindest von einem von dem Detektor (4) gemessenen Messsignal vom Ort der Wechselwirkung in der untersuchten Probe den Lichtmani-pulator (2) so ansteuert, dass das Messsignal maximal ist, - wobei in Abhängigkeit von einer Änderung einer Mittenwellen-länge des Kurzpulslasers, der verwendeten mittleren Leistung und/oder der Eindringtiefe in die untersuchte Probe die Phasen- und/oder Amplitudenmodulation des Lichtmanipulators (2) steuerbar ist und - wobei durch die Phasen und/oder Amplitudenmodulation im Lichtmanipulator (2) Dispersionen höherer Ordnung in den opti- - 16 - schen Komponenten des Mikroskops (M, O) kompensierbar sind. Hilfsantrag 7: 1. Anordnung zur Einstellung der Pulsform eines Kurzpulslasers am Ort der Probenwechselwirkung in einem Laser-Scanning-Mikroskop, mit - einem Kurzpulslaser (KL) zur Bereitstellung kurzer Laserpulse für die Anregung eines nichtlinearen Effekts in einer Probe (P), - mit einem dem Kurzpulslaser (KL) nachgeordneten Pulsfor-mer (PF) zur Manipulation der Form der Laserpulse, die eine dispersive Einheit (1, 3) zum Aufspalten der Laserpulse in ihre spektralen Bestandteile und zum Wiederzusammenführen die-ser Bestandteile aufweist, - mit einem Mikroskop (M, O), in welches die manipulierten La-serpulse einleitbar sind, zum Fokussieren der Laserpulse in der Probe (P), um darin den nichtlinearen Effekt anzuregen, und - mit einem mit dem Mikroskop (M, O) zusammenwirkenden De-tektor (4) zum Nachweis des von den kurzen Laserpulsen am Ort der Probenwechselwirkung angeregten nichtlinearen Ef-fekts, dadurch gekennzeichnet, - dass der Pulsformer (PF) zum separaten Beeinflussen der spektralen Bestandteile des Kurzpulslasers ausgebildet ist, - dass die dispersive Einheit (1, 3) eine Abbildungsoptik (L1, L2) aufweist, die die spektralen Bestandteile in eine Brennebene in-nerhalb der dispersiven Einheit (1, 3) abbildet und hier räumlich voneinander trennt, - dass in der Brennebene ein steuerbarer Lichtmanipulator (2) angeordnet ist, mit dem die spektralen Bestandteile zur Manipu- - 17 - lation der Pulsform separat in ihrer Phase und/oder Amplitude veränderbar sind, - dass die spektralen Bestandteile nach Manipulation durch den Lichtmanipulator (2) von der dispersiven Einheit (1, 3) wieder zusammenführbar sind, - dass ein Spiegel (S) vorgesehen ist, der mit einem dispersiven Element (1) der dispersiven Einheit zusammenwirkt, wobei das dispersive Element insgesamt zweimal durchlaufen wird, - dass ein Regeleinrichtung (R) vorgesehen ist, die mit dem Kurzpulslaser (KL), dem Pulsformer (PF), dem Mikroskop (M, O) und dem Detektor (4) zusammenwirkt, und - dass die Regeleinrichtung (R) in Abhängigkeit zumindest von einem von dem Detektor (4) gemessenen Messsignal vom Ort der Wechselwirkung in der untersuchten Probe den Lichtmani-pulator (2) so ansteuert, dass das Messsignal optimiert ist, - wobei in Abhängigkeit von einer Änderung einer Mittenwellen-länge des Kurzpulslasers, der verwendeten mittleren Leistung und/oder der Eindringtiefe in die untersuchte Probe die Phasen- und/oder Amplitudenmodulation des Lichtmanipulators (2) steuerbar ist und - wobei durch die Phasen und/oder Amplitudenmodulation im Lichtmanipulator (2) Dispersionen höherer Ordnung in den opti-schen Komponenten des Mikroskops (M, O) kompensierbar sind. II. Der Einspruch ist frist- und formgerecht eingelegt und auch sonst zulässig. Er führt in der Sache zum Erfolg, da der jeweilige Patentanspruch 1 gemäß dem Hauptan-trag und den Hilfsanträgen unzulässig ist. - 18 - Gegenstand des Patents ist nach dem Patentanspruch 1 in der erteilten Fassung eine Anordnung zur Einstellung der Pulsform eines Kurzpulslasers am Ort der Pro-benwechselwirkung in einem Laser-Scanning-Mikroskop, wobei die Anordnung aus einer dispersiven Einheit mit einer Abbildungsoptik und aus einem Lichtmani-pulator besteht. Entsprechend den Funktionsangaben im erteilten Patentan-spruch 1 spaltet die dispersive Einheit einen Laserpuls des Kurzpulslasers in seine spektralen Bestandteile dispersiv auf und führt diese Bestandteile wieder zusam-men. Durch die Abbildungsoptik werden die spektralen Bestandteile in eine Brenn-ebene innerhalb der dispersiven Einheit abgebildet und hier räumlich voneinander getrennt. Der in der Brennebene angeordnete Lichtmanipulator beeinflußt die von-einander getrennten spektralen Bestandteile separat derart, daß diese in ihrer Phase oder Amplitude zur Einstellung der Pulsform geändert werden. In welcher Einrichtung zur Probenuntersuchung diese Anordnung eingesetzt wird, ist für de-ren funktionelle Eignung zur Pulsformung und für deren räumlich-körperliche Aus-gestaltung bezüglich der erforderlichen optischen Komponenten sowie deren Zu-sammenwirken ohne Bedeutung. Mit dem Hinweis im erteilten Patentanspruch 1 auf ein Laser-Scanning-Mikroskop als Ort der Probenwechselwirkung wird somit lediglich eine von mehreren Anwendungsmöglichkeiten der Anordnung zur Einstel-lung der Pulsform eines Kurzpulslasers aufgezeigt. Demnach ist weder der Schutz aus dem Patent auf die genannte Anwendungsmöglichkeit eingeschränkt, noch ist diese Anwendungsmöglichkeit und die dafür vorgesehene Einrichtung in den Ge-genstand des Patents einbezogen. Gegenstand des jeweiligen Patentanspruchs 1 gemäß dem Hauptantrag und den Hilfsanträgen 1 bis 7 ist aber nicht mehr allein die Anordnung zur Einstellung der Pulsform eines Kurzpulslasers sondern die gesamte, für die im erteilten Patentan-spruch 1 genannte Anwendung vorgesehene Einrichtung, die gemäß Fig 1 der Pa-tentschrift und zugehöriger Beschreibung neben der Anordnung zur Pulsformung noch einen Kurzpulslaser, ein Mikroskop, das vorteilhaft ein Laser-Scanning-Mi-kroskop ist, vgl Sp 3, Z 31 und 32, einen Detektor und eine Regeleinrichtung auf-weist. Die Beschreibung dieser Einrichtung in der Patentschrift reicht jedoch für sich nicht aus, um die Teile der Einrichtung, mit denen zusammen die Anordnung - 19 - zur Pulsformung eingesetzt werden soll, in den erteilten Patentanspruch 1 zur Be-schränkung des Patentgegenstands aufnehmen zu können, wenn sich im erteilten Patentanspruch 1 keine ausreichende Stütze dafür findet, daß nicht nur die Anord-nung zur Pulsformung sondern auch die gesamte Einrichtung in den Gegenstand des erteilten Patentanspruchs 1 einbezogen sein soll, vgl BGH "Überströmventil", GRUR 1980, 219 und 220. Da die in Fig 1 dargestellte Einrichtung, wie oben dargelegt, nicht Gegenstand des erteilten Patentanspruchs 1 ist, wird mit jedem der Patentansprüche 1 nach Haupt-antrag und den Hilfsanträgen durch die nachträgliche Aufnahme der vorgenannten Einrichtungsteile in jeden Patentanspruch 1 Schutz für einen anderen Gegenstand beansprucht, als er mit dem erteilten Patentanspruch 1 unter Schutz gestellt wor-den ist, vgl BGH "Spleißkammer", GRUR 1990, 432. Die Patentansprüche 1 nach dem Hauptantrag und den Hilfsanträgen 1 bis 7 sind daher unzulässig, so daß keinem der Anträge stattgegeben werden konnte. Das Patent war demnach zu widerrufen. Dr. Fritsch Dr. Kraus Eder Schuster Pü
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