BPatG 154 6.70 BUNDESPATENTGERICHT 19 W (pat) 27/01 _______________ (Aktenzeichen) Verkündet am 11. August 2003 … B E S C H L U S S In der Beschwerdesache betreffend die Patentanmeldung 198 44 756.6-52 … hat der 19. Senat (Technischer Beschwerdesenat) des Bundespatentgerichts auf die mündliche Verhandlung vom 11. August 2003 unter Mitwirkung des Vorsitzen-den Richters Dipl.-Phys. Dr. Kellerer und der Richter Schmöger, Dipl.-Phys. Dr. Mayer und Dipl.-Ing. Groß beschlossen: Die Beschwerde wird zurückgewiesen. - 2 - G r ü n d e I Das Deutsche Patent- und Markenamt - Prüfungsstelle für Klasse G 01 B - hat die am 29. September 1998 eingegangene Anmeldung mit der inländischen Priorität vom 11. Februar 1998 (Akz: 198 05 536.6) durch Beschluss vom 3. Januar 2001 mit der Begründung zurückgewiesen, dass sich der Gegenstand des Patentan-spruchs 1 in naheliegender Weise aus dem Stand der Technik ergebe. Gegen diesen Beschluss richtet sich die Beschwerde der Anmelderin. Der geltende Patentanspruch 1 gemäß Hauptantrag lautet: "Verfahren zur Dickenmessung unter Zuhilfenahme des Ab-sorptionsprinzips, dadurch gekennzeichnet, dass zur Dickenmessung eines Metallbandes (1) dessen Di-ckenmesswert aus der Absorption eines von einem Strahler (6) einer Dickenmesseinrichtung (5) ausgesandten und auf einen Empfänger (7) der Dickenmesseinrichtung (5) gerichteten Strahls (10) bei dessen Durchtritt durch das Metallband (1) er-rechnet wird, und dass eine Steigung der Oberfläche des Me-tallbandes (1) gemessen und der mit der Dickenmesseinrich-tung (5) gemessene Dickenmesswert in Abhängigkeit der Stei-gung der Oberfläche des Metallbandes (1) korrigiert wird." Gemäß Hilfsantrag sind im Patentanspruch 1 im Kennzeichen nach "dass zur Di-ckenmessung eines" die Worte "eine Dickenmesseinrichtung (5) passierenden" eingefügt. - 3 - Es soll die Aufgabe gelöst werden, bei einer auf dem Absorptionsprinzip basieren-den Dickenmessung zur Bestimmung der Dicke eines Metallbandes ein Verfahren bzw eine Einrichtung anzugeben, das bzw die es ermöglicht, die Dicke eines Me-tallbandes präziser zu messen (S 1, Z 14 bis 21 der geltenden Beschreibung). Die Anmelderin beantragt, den angefochtenen Beschluss aufzuheben und das Patent mit folgenden Unterlagen zu erteilen: Patentansprüche 1 bis 10 vom 15. Juli 2003, hilfsweise Patentansprüche 1 bis 9, überreicht in der mündli-chen Verhandlung vom 11. August 2003 mit Patentanspruch 10 vom 15. Juli 2003, in beiden Fällen mit Beschreibungseinleitung Seiten 1 und 1a vom 15. Juli 2003, sowie Offenlegungsschrift ab Spalte 1 Zei-le 36 und Zeichnungen gemäß Offenlegungsschrift. Die Anmelderin vertritt die Ansicht, dass das im Patentanspruch 1 nach Hauptan-trag beanspruchte Verfahren zur Dickenmessung unter Zuhilfenahme des Ab-sorptionsprinzips durch den Stand der Technik nicht nahegelegt und somit pa-tentfähig sei. Die Einfügung im Patentanspruch 1 des Hilfsantrags ergebe sich für den Fachmann aus dem Hinweis in der Beschreibung, dass bei Dickenmessge-räten, die auf dem Absorptionsprinzip basieren, es insbesondere am Bandkopf zu Messungenauigkeiten komme. Wegen weiterer Einzelheiten wird auf den Akteninhalt verwiesen. - 4 - II Die zulässige Beschwerde konnte keinen Erfolg haben, weil das Verfahren zur Di-ckenmessung des Patentanspruchs 1 nach Hauptantrag auf keiner erfinderischen Tätigkeit beruht und das Verfahren des Patentanspruchs 1 nach Hilfsantrag unzu-lässig erweitert ist. 1. Hauptantrag Aus dem Fachlexikon "ABC Physik", Verlag Harri Deutsch, Zürich und Frankfurt am Main, 1974 ist unter dem Stichwort "Absorption" (S 21) bekannt, dass für die Durchlässigkeit D von Strahlungsintensität elektromagnetischer Wellen durch ein Medium der formelmäßige Zusammenhang gilt: D = Ie/Ia = exp[-kd] (Bouguer-Lambertsches Gesetz) Dabei bedeuten Ia die im Medium am Ort a und Ie die nach einer Laufstrecke der Länge d (=Schichtdicke) am Orte e im Medium vorhandene Strahlungsintensität und k die Absorptionskonstante (S 22 li Sp Abs 3). Dem Fachmann, einem Diplomphysiker mit Universitätsabschluss, ist dieser formelmäßige Zusammen-hang, der ein Verfahren zur Dickenmessung unter Zuhilfenahme des Absorptions-prinzips beinhaltet, aus seinem Studium und entsprechenden Praktikumsversu-chen bekannt. Es ergibt sich somit für ihn aufgrund seiner Fachkenntnisse, dass er zur Dickenmessung eines Mediums, das auch ein Metallband sein kann, des-sen Dickenmesswert aus der Absorption eines Strahls beim Durchtritt durch das Medium, also das Metallband, errechnen kann. Er benötigt demnach für diese Art von Dickenmessung eine Dickenmesseinrichtung mit einem Strahler, der einen Strahl auf das Metallband aussendet, und auf einen Empfänger der Dickenmess-einrichtung gerichtet ist, der auf der dem Strahler abgewandten Seite des Metall-bandes zur Detektion der Intensität Ie angeordnet ist. - 5 - Steht der Fachmann vor dem Problem, bei diesem bekannten Verfahren zur Di-ckenmessung unter Zuhilfenahme des Absorptionsprinzips die Dicke des Metall-bandes sehr präzise zu messen, wird der Fachmann ohne erfinderische Überle-gungen daran denken, dass bei einem Metallband, das planparallele Oberflächen besitzt, der Strahl senkrecht zur Oberfläche des Metallbandes ausgerichtet sein muss. Andernfalls misst er eine zu große Dicke des Metallbandes. Entweder jus-tiert der Fachmann in der Dickenmesseinrichtung die Oberfläche des Metallban-des senkrecht zum einfallenden Strahl; oder er bestimmt den Einfallswinkel des Strahls auf die Oberfläche des Metallbandes, indem er die Steigung der Oberflä-che des Metallbandes misst, und korrigiert anschließend den mit der Dickenmess-einrichtung gemessenen Dickenmesswert in Abhängigkeit von der gemessenen Steigung der Oberfläche des Metallbandes. Hierbei hat er dann lediglich einfache geometrische Überlegungen unter Einbeziehung der Verhältnisse in einem recht-winkligen Dreieck durchzuführen. Mithin ist der Fachmann ohne weiteres in der Lage, ausgehend von dem Fachlexi-kon "ABC Physik" aaO aufgrund seiner Fachkenntnisse die im Patentanspruch 1 nach Hauptantrag angegebene Lehre zu realisieren. Man würde die Kenntnisse und Fähigkeiten des Fachmanns unterschätzen, würde man ihm solches Handeln nicht zutrauen. 2. Hilfsantrag Entgegen der Meinung der Anmelderin ist das im Kennzeichen des Patentan-spruchs 1 nach Hilfsantrag eingefügte Merkmal "dass zur Dickenmessung eines eine Dickenmesseinrichtung (5) passierenden Metallbandes (1)" in den ursprüngli-chen Unterlagen nicht offenbart. Die von der Anmelderin hierzu zitierte Stelle in der ursprünglichen Beschreibung Seite 1 Absatz 3 macht die Aussage, dass es bei Dickenmessgeräten, die auf dem Absorptionsprinzip basieren, insbesondere am Bandkopf zu Messungenauigkeiten kommt. Nach Überzeugung des Senats kann der zuständige Fachmann aus die- - 6 - ser Formulierung nicht ableiten, dass das Metallband die Dickenmesseinrichtung während der Dickenmessung passiert, dh dass die Dickenmessung kontinuierlich erfolgen soll, insbesondere auch beim Einführen des Metallbandes in die Dicken-messeinrichtung, wobei das Metallband dann noch nicht exakt fixiert ist. Die Be-schreibung gibt dem Fachmann keine Hinweise darauf. Denn aus dem Ort des Metallbandes, wo die Messprobleme auftreten, kann der Fachmann nicht auf das Herstellungsverfahren des Metallbandes in Walzgerüsten und die damit verbunde-nen Messprobleme bei der Bestimmung der Banddicke während des Walzens schließen. Demnach führt die eingefügte Festlegung zu einer unzulässigen Ände-rung des Gegenstandes des Patentanspruchs 1 nach Hilfsantrag. Der Patentanspruch 1 nach Hilfsantrag ist deshalb gegenüber dem urspünglich of-fenbarten unzulässig erweitert und daher nicht gewährbar. 3. Mit dem Patentanspruch 1 nach Haupt- und Hilfsantrag sind auch die auf diesen rückbezogenen Ansprüche 2 bis 8 nicht gewährbar. Mit dem Patentanspruch 1 nach Haupt- und Hilfsantrag sind auch die (beim Hauptantrag fakultativ) nebengeordneten Patentansprüche 7, 8 und die auf Pa-tentanspruch 8 direkt oder indirekt rückbezogenen Patentansprüche 9 und 10 nicht gewährbar, da ein Patent nur so erteilt werden kann, wie es beantragt ist (vgl BGH GRUR 1997, 120 - "Elektrisches Speicherheizgerät"). Dr. Kellerer Schmöger Dr. Mayer Dipl.-Ing. Groß Be
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