BPatG 15408.05BUNDESPATENTGERICHT19 W (pat) 46/05_______________(Aktenzeichen)Verkündet am6. Mai 2009…B E S C H L U S SIn der Beschwerdesache…betreffend die Patentanmeldung 199 09 300.8-34hat der 19. Senat (Technischer Beschwerdesenat) des Bundespatentgerichts auf die mündliche Verhandlung vom 6. Mai 2009 unter Mitwirkung des Vorsitzenden Richters Dipl.-Ing. Bertl, des Richters Dr.-Ing. Kaminski, der Richterin Kirschneck und des Richters Dr.-Ing. Scholz- 2 -entschieden:Die Beschwerde wird zurückgewiesen.G r ü n d eI.Das Deutsche Patent- und Markenamt - Prüfungsstelle für Klasse H 01 G - hat die am 3. März 1999 eingereichte Anmeldung, für welche die Unionspriorität der japa-nischen Anmeldung Nr. 10-50537 vom 3. März 1998 in Anspruch genommen ist, durch Beschluss vom 24. Juni 2005 mit der Begründung zurückgewiesen, dass der Gegenstand des Patentanspruchs 1 vom 2. Juni 2005 nicht auf einer erfinderi-schen Tätigkeit beruhe.Gegen diesen Beschluss richtet sich die Beschwerde der Anmelderin vom 1. Au-gust 2005.Sie hat in der mündlichen Verhandlung beantragt,den Beschluss der Prüfungsstelle für Klasse H 01 G des Deut-schen Patent- und Markenamtes vom 24. Juni 2005 aufzuheben und das Patent aufgrund folgender Unterlagen zu erteilen:- Patentansprüche 1 bis 4 vom 2. Juni 2005- Beschreibung und Zeichnungen wie ursprüngliche Anmeldung vom 3. März 1999.- 3 -Der zurückgewiesene und nach wir vor geltende Patentanspruch 1 lautet:„Monolithisches keramisches Elektronikbauteil, mit einem Lami-nat (3), das mehrere laminierte Keramiklagen (2) enthält, die je-weils aus keramischem Rohmaterialpulver gesintert sind, und ei-ner Innenelektrode (8, 9), die aus einem gesinterten Metallpulver bestehend aus Nickel oder einer Nickellegierung hergestellt ist und die auf einer vorbestimmten Berührungsfläche zwischen den Keramiklagen(2) liegt, wobei die Keramiklagen (2) eine Dicke zwi-schen 1 ȝPXQG ȝPDXIZHLVHQGLH.HUDPLNNörner der Keramik-lagen nach der Sinterung eine mittlere Teilchengröße zwischen 0,1 ȝPXQG ȝPXQGGLH,QQHQHOHNWURGHHLQH'LFNHYRQ ȝPbis 0,7 ȝPKDEHQdadurch gekennzeichnet, daß das Metallpul-ver bestehend aus Nickel oder einer Nickellegierung, aus dem die Innenelektrode (8, 9) gesintert ist, eine mittlere Teilchengröße zwi-schen 10 nm und 200 nm aufweist.“Es soll die Aufgabe gelöst werden, ein monolithisches keramisches Elektronik-bauteil, wie z. B. einen monolithischen Keramikkondensator anzugeben, der keine Strukturfehler hat, dessen Innenelektroden und Keramikschichten verdünnt wer-den können und der sehr gute Leistungsmerkmale, wie z. B. eine hohe Kapazität, geringe Abmessungen und eine hohe Zuverlässigkeit hat (S. 4 Abs. 2 der ur-sprünglichen Beschreibung).Die Anmelderin vertritt die Ansicht, die EP 0 739 019 A1 gebe dem Fachmann we-der einen Hinweis, dass es auf die Teilchengröße für die Herstellung der Innen-elektroden überhaupt ankomme, noch auf das beanspruchte Zusammenspiel der Teilchengrößen in der Keramikschicht und des Metallpulvers der Innenelektroden, deren Auslegung sogar als nicht kritisch bezeichnet sei.- 4 -Auch liege die einzige in dieser Druckschrift genannte Nickel-Teilchengröße mit 800 nm weit außerhalb des anspruchsgemäßen Bereichs, so dass bei einem Um-rechnen auf die anspruchsgemäßen Bereiche die Untergrenze der Keramikteil-chengröße mit der Obergrenze der Metallteilchengröße korrespondiere.Schließlich ergebe sich aus den Tabellen der Anmeldungsbeschreibung überdies eine besonders hohe Lebensdauer von Proben mit mittleren Nickel-Teilchengrö-ßen von 50 nm bis 100 nm.Wegen weiterer Einzelheiten wird auf den Akteninhalt verwiesen.II.Die zulässige Beschwerde konnte keinen Erfolg haben.Es kann dahingestellt bleiben, ob die Aufnahme lediglich von Teilmerkmalen des ursprünglichen Anspruchs 3 in den geltenden Patentanspruch 1 bzw. die gegen-über dem ursprünglichen Anspruch 1 geänderte Angabe aus keramischem Roh-materialpulver gesintert den Anmeldegegenstand jeweils unzulässig erweitern.Denn der Gegenstand des Anspruchs 1 beruht jedenfalls nicht auf einer erfinderi-schen Tätigkeit des Fachmanns.Als zuständiger Fachmann ist hier ein Werkstoff-Physiker (Univ.) oder ein auf dem Gebiet der keramischen Werkstoffe arbeitender Diplom-Ingenieur des Maschinen-baus (Univ.) anzusehen, der hinsichtlich der elektrischen und montagetechnischen Eigenschaften des Elektronikbauteils im Team mit einem Diplom-Ingenieur (Univ.) der Elektrotechnik zusammenarbeitet.- 5 -2. Aus der EP 0 739 019 A1 ist in Übereinstimmung mit dem geltenden An-spruch 1 bekannt ein monolithisches keramisches Elektronikbauteil 1 (multilayer ceramic chip capacitor), mit einem Laminat (S. 7 Z. 52 bis 54), das mehrere lami-nierte Keramiklagen 2 (Fig. 1 und S. 4 Z. 49) enthält, die jeweils aus keramischen Rohmaterialpulver gesintert sind (S. 7 Z. 7 bis 27 und S. 8 Z. 6 bis 21), und einer Innenelektrode 3 (Fig. 1 und S. 4 Z 49), die aus einem gesinterten Metallpulver bestehend aus Nickel oder einer Nickellegierung hergestellt ist (S. 6 Z. 40 bis 45 i. V. m. S. 7 Z. 31 bis 33 und S. 8 Z. 8 bis 21), und die auf einer vorbestimmten Berührungsfläche zwischen den Keramiklagen 2 liegt (Fig. 1).Hinsichtlich der Keramiklagen ist für das bekannte Bauteil angegeben, dass diese vorzugsweise eine Dicke im Bereich zwischen 0,5 ȝPXQG ȝPDXIZHLVHQ 6 6 Z. 33 bis 36), so dass der anspruchsgemäße Bereich zwischen 1 ȝP XQG ȝPeingeschlossen ist.Die Keramikkörner der Keramiklagen weisen nach der Sinterung vorzugsweise ei-ne mittlere Teilchengröße zwischen 0,1 ȝPXQG ȝPDXI 6 5 Z. 56 bis S. 6 Z. 2), d. h. bei übereinstimmender Untergrenze ist der anspruchsgemäße Teil-chengrößenbereich mit einer Obergrenze von 0,5 ȝPQXUXPFD 10 % größer als der bekannte Bereich.Die für die dortige Innenelektrode angegebene Dicke von vorzugsweise 0,5 ȝPbis 2,5 ȝP QLPPW GHQ REHUHQ 7HLO GHV DQVSUXFKVJHPäßen Dickenbereichs von 0,2 ȝPELV ȝPYRUZHJDamit ist der Oberbegriff des als product-by-process-Anspruch anzusehenden Pa-tentanspruchs 1 hinsichtlich aller wesentlichen Sach- und Verfahrensmerkmale aus der EP 0 739 019 A1 bekannt.- 6 -Zwar ist dort im Zusammenhang mit einem Ausführungsbeispiel für die Teilchen-größe des Metallpulvers ein Wert von 0,8 ȝP 800 nm angegeben, der deutlich oberhalb des im kennzeichnenden Teil des geltenden Anspruchs 1 angegebenen Bereichs zwischen 10 nm und 200 nm liegt.Dieser Unterschied kann aber - wie die Prüfungsstelle in ihrem Zurückweisungs-beschluss zutreffend ausgeführt hat - nicht patentbegründend sein.Die der Anmeldung zugrunde liegende Aufgabe, ein monolithisches keramisches Elektronikbauteil, wie z. B. einen monolithischen Keramikkondensator anzugeben, der keine Strukturfehler hat, dessen Innenelektroden und Keramikschichten ver-dünnt werden können und der sehr gute Leistungsmerkmale, wie z. B. eine hohe Kapazität, geringe Abmessungen und eine hohe Zuverlässigkeit hat, stellt sich an-gesichts des Bedarfs nach immer kleineren, leistungsfähigeren und zuverlässige-ren Bauteilen dem Fachmann in der Praxis regelmäßig von selbst.Ausgehend von dem aus der EP 0 739 019 A1 bekannten Kondensator orientiert sich der Fachmann deshalb insbesondere hinsichtlich der Dicke der Innenelektro-de in Richtung der dort offenbarten Untergrenze von 0,5 ȝPXQG]LHKWDXFKJHULQ-gere Schichtdicken in Betracht, solange es ihm gelingt, diese mit vertretbarem Aufwand und Kosten in der gewünschten Qualität herzustellen, wozu wenige ori-entierende Versuche reichen.Mit dieser Orientierung und aus den im Zurückweisungsbeschluss (insbes. S. 4 Abs. 1 bis 3) überzeugend dargestellten Gesichtspunkten gelangt der Fachmann im Rahmen handwerklichen Tuns ohne weiteres auf eine mittlere Metallpulver-Teilchengröße, die sich in dem anspruchsgemäßen Größenbereich von 10 nm bis 200 nm bewegt.- 7 -Die Festlegung der Grenzwerte aller im geltenden Anspruch 1 angegebenen Be-reichsgrenzen unterliegt in der Praxis einer nicht erfinderischen Abwägung von Kosten, Nutzen und Herstellungsaufwand, die hier auch deshalb nicht mit techni-schen Gesichtspunkten begründet werden kann, weil auch die anmeldungsgemä-ßen Ausführungsbeispiele nur grob gestuft beidseits der Grenzen liegen (vgl. Ta-bellen 3 bis 5), so dass keine weiteren Rückschlüsse möglich sind.Auch der Hinweis der Anmelderin in der mündlichen Verhandlung auf die beson-ders guten Kennwerte der mittleren Lebensdauer von Proben mit einer Nickel-Teil-chengröße von 50 bzw. 100 nm kann zu keiner anderen Beurteilung führen. Denn derartige Messungen sind bekanntermaßen mit großen Streuungen behaftet. Man-gels entsprechender Angaben in den Anmeldeunterlagen scheinen dem Senat je-doch die Unterschiede der Lebensdauerkennwerte zu Proben mit anderen Teil-chengrößen nicht signifikant genug, als dass eine Prüfung derart eingeschränkter Bereiche auf Patentfähigkeit überhaupt in Betracht gezogen werden kann.Bertl Dr. Kaminski Kirschneck Dr. ScholzBe
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