BPatG 154 05.11 BUNDESPATENTGERICHT 21 W (pat) 3/13 _______________ (Aktenzeichen) Verkündet am 7. November 2013 … B E S C H L U S S In der Beschwerdesache betreffend die Patentanmeldung 103 21 648.0-54 … hat der 21. Senat (Technischer Beschwerdesenat) des Bundespatentgerichts auf-grund der mündlichen Verhandlung vom 7. November 2013 unter Mitwirkung des Vorsitzenden Richters Dipl.-Phys. Dr. Häußler sowie der Richterin Hartlieb, des Richters Dipl.-Phys. Dr. Müller und der Richterin Dipl.-Phys. Zimmerer - 2 - beschlossen: Die Beschwerde wird zurückgewiesen. G r ü n d e I Die Patentanmeldung mit dem Aktenzeichen 103 21 648.0 wurde am 13. Mai 2003 unter der Bezeichnung „Verfahren und Vorrichtung für die massenspektrometri-sche Analyse von Gasen“ beim Deutschen Patent- und Markenamt angemeldet und am 16. Dezember 2004 offengelegt. Patentanmelderin ist die T… (B…) GmbH in B…. Im Prüfungsverfahren sind die Druckschriften D1 DE 954 105 B, D2 WO 94/05034 A1 und D3 DE 196 37 480 C2 in Betracht gezogen worden. Die Prüfungsstelle für Klasse H 01 J hat die Anmeldung am 24. März 2009 zurück-gewiesen, da das Verfahren nach dem geltenden Anspruch 1 gegenüber dem aus der Druckschrift D1 Bekannten nicht neu sei. Dies träfe auch auf die Vorrichtung nach dem nebengeordneten Anspruch 5 zu. - 3 - Dagegen richtet sich die Beschwerde der Anmelderin vom 9. Juni 2009, die bean-tragt, den Beschluss der Prüfungsstelle H 01 J vom 24. März 2009 auf-zuheben und ein Patent auf der Grundlage der mit dem Schriftsatz vom 10. August 2009 eingereichten Unterlagen, der Beschreibung S. 1 bis 4 und den Ansprüchen 1 bis 13, zu erteilen. Den ursprünglichen Antrag auf mündliche Verhandlung hat die Anmelderin zurück-genommen und um Weiterführung im schriftlichen Verfahren gebeten. Die Anmel-derin wurde auf die Sachdienlichkeit der anberaumten Verhandlung hingewiesen. Der mit Eingabe vom 10. August 2009 eingereichte, nebengeordnete Patentan-spruch 7 lautet: Massenspektrometer (10) mit folgenden Merkmalen: a) mit einer lonenquelle (12) und einem Analysator (14) für die Analyse von Gasen, b) der lonenquelle ist eine gekühlte Oberfläche (Kühlfläche 19) zugeordnet, c) das Gas ist von der Oberfläche ionisierbar, d) das Gas ist an der Oberfläche kühlbar, derart, dass das Gas an der Oberfläche gebunden wird und Diffusionsbewegungen an der kalten Oberfläche möglich sind. Hinsichtlich der Unteransprüche 2 bis 6 und 8 bis 11, der Nebenansprüche 12 und 13 und weiterer Einzelheiten wird auf den Akteninhalt verwiesen. - 4 - II 1. Die Beschwerde der Anmelderin ist zulässig, bleibt aber in der Sache ohne Er-folg, denn nach Überzeugung des Senats erweist sich der Gegenstand des Pa-tentanspruchs 7 als nicht patentfähig, da er nicht neu ist. 2. Die Anmeldung betrifft gemäß Beschreibung ein Verfahren zum Betrieb eines Massenspektrometers mit Ionenquelle und Analysator, wobei ein Gas in das Mas-senpektrometer eingelassen, an der Ionenquelle ionisiert und im Analysator analy-siert wird. Daneben betrifft die Erfindung ein Massenspektrometer mit Ionenquelle und Analysator für die Analyse von Gasen. (siehe Offenlegungsschrift Abs. [0001]) und ferner die Verwendung des Massenspektrometers und ein Verfahren zur Er-zeugung von Ionen aus Gas (siehe geltende Patentansprüche). Ein (statisches) Massenspektrometer besteht aus einer Ionenquelle und einem Analysator, weiter weist es Einrichtungen zur Erzeugung eines Hochvakuums auf. Während einer Messung mit einem statischen Massenspektrometer wird das Mas-senspektrometer nach dem Evakuieren von der Pumpe abgetrennt und dann das zu analysierende Gas (Probengas) eingelassen, welches sich im Massenspektro-meter (Ionenquelle, Analysator und Auffängerbereich) verteilt (siehe Offenlegungs-schrift Abs. [0003]). In herkömmlichen statischen Massenspektrometern werden die zu analysierenden Gase in der Ionenquelle durch Elektronenstoß oder Laserbeschuss ionisiert (siehe Offenlegungsschrift Abs. [0004]). Nach den Ausführungen in der Beschreibungseinleitung sei die bekannte Ionisie-rung des Gases durch Elektronenstoß jedoch nicht besonders effektiv, da die Dichte der zu ionisierenden Teilchen in der Gasphase relativ gering ist. - 5 - Dadurch ergebe sich ein nur kleiner Ionenstrom, obwohl aus Gründen der Ionen-zählstatistik eine möglichst hohe Anzahl an Ionen wünschenswert ist. Ein weiterer Nachteil der herkömmlichen Massenspektrometer in Verbindung mit der Elektronenstoßionisation sei auch die hohe Energiebreite der erzeugten Ionen. Dies begrenze insbesondere bei einfach fokussierenden Massenspektrometern die erzielbare Massenauflösung (siehe Offenlegungsschrift Abs. [0005]). Vor diesem Hintergrund liegt der Erfindung die objektive und in der Patentanmel-dung angegebene Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Vorrichtung zu schaffen, mit denen massenspektrometrische Analysen - vorzugsweise mit stati-schen Massenspektrometern - mit höherer Empfindlichkeit durchführbar sind. Ins-besondere soll ein höherer und konzentrierter Ionenstrom zur Verfügung gestellt werden (siehe Offenlegungsschrift Abs. [0006]). Die Lösung der Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch erreicht, dass das Gas an einer gekühlten Oberfläche konzentriert gebunden und dann ionisiert wird. Die er-findungsgemäß vorgesehene Kühlung des Gases an einer Oberfläche bewirkt ei-ne Konzentration der Gasteilchen an der Oberfläche, sodass eine Ionisierung an dieser Stelle einen höheren Ionenstrom ermöglicht (siehe Offenlegungsschrift Abs. [0007]). - 6 - Die Figuren 3 und 4 zeigen die erfindungsgemäßen Kühlfläche 19 in der Ionen-quelle 12: Fig. 3 Fig. 4 Der hier zuständige Fachmann ist ein berufserfahrener Diplom-Physiker mit mehr-jähriger Erfahrung in der Entwicklung von Massenspektrometern. 3. Die Patentansprüche 1 bis 13 sind zulässig, da ihre Merkmale in den ursprüngli-chen Anmeldeunterlagen jeweils als zur Erfindung gehörend offenbart sind. 4. Der Gegenstand des Patentanspruchs 7 ist gegenüber der Druckschrift D1 nicht neu. - 7 - Die Druckschrift D1 beschreibt ein Massenspektrometer mit folgenden Merkmalen: a) eine lonenquelle Elektrode A und ein Analysator (magneti-sches Ablenksystem D, Blende C, Elektrometer E) für die Ana-lyse von Gasen (vgl. D1 S. 1 Z. 16 - S. 2 Z. 8, Fig. 1) [= Merk-mal a des Patentanspruchs 7], b) eine der lonenquelle zugeordnete gekühlte Oberfläche (vgl. D1 S. 2 Z. 12-13, Z. 29-33, Anspruch 2) [= Merkmal b des Pa-tentanspruchs 7], c) wobei das Gas von der Oberfläche ionisierbar ist (vgl. D1 S. 2 Z. 12-13, Anspruch 2) [= Merkmal c des Patentanspruchs 7], d) und die Oberfläche kühlbar ist (vgl. D1 S. 2 Z. 29 - D1 S. 2 Z. 29-32, 41-44) [= Merkmal d des Patentanspruchs 7]. mit der Folge, dass das Gas an der Oberfläche gebunden werden kann und Diffu-sionsbewegungen an der kalten Oberfläche möglich sind. Der Gegenstand des Anspruchs 7 ist somit durch die Druckschrift D1 vorwegge-nommen. 5. Da der Gegenstand des Patentanspruchs 7 nicht patentfähig ist, fallen aufgrund der Antragsbindung notwendigerweise auch die übrigen Patentansprüche (vgl. BGH GRUR 1997, 120 ff. - elektrisches Speicherheizgerät). Dr. Häußler Hartlieb Dr. Müller Zimmerer Pü
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